x-ray 鍍層測厚儀M1 ORA

所在地: 上海市
發布時間: 2016-02-04
詳細信息

M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素範圍:原子序數22號(鈦)以上的所有元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析,數分鐘內就可以得到結果。

樣品尺寸大可達100×100×100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺上檢測,採用光學顯微鏡進行準確定位。

採用大感應面積的正比計數器接收樣品發出的熒光信號。採集的信號越多,分析結果越。可以檢測含量在0.5%以上的元素

基於標樣模型或無標樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的所有元素。準確度高,精度達到0.2wt%對於沒有預想到的元素也能夠進行分析。

黃金成色分析可以用K(開)或質量百分比(%)表示

珠寶、黃金、貴金屬分析

珠寶與貴金屬飾品的貨幣兼職不是主要由設計和制作人工決定、而是主要由合金中貴金屬成分及寶石的種類和品質所決定。已知的集中合金分析方法,古老的為火練法,首先採用高密度天秤秤重一塊原始金屬,然後通過不同步奏(氧化和溶解)去除非金屬物質,後秤重餘量。但是這方法很好使,而且需破壞樣品,同時也產生很多有毒污染物和氣體。

X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析,同時能夠得到高度測試結果的分析方法

由於珠寶首飾件通常都非常的小,又有些是採用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能採用儀器內的準直器將激發的X射線集中於一小點,閆策樣品成分。

X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用於大量的黃金合金係列,可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

黃金成分範圍35%(8克拉/K)~100%(24克拉/K)

適用於:白金、黃金、鉑合金、銀合金,分析精度優於0.2%

M1ORA是專門適用於珠寶行業的臺式微區X射線熒光光譜儀(μ-XRF),結構緊湊、佔用空間小。

技術規格:

光源微焦斑光管,鎢靶,玻璃窗

電壓、功率40KV、40W

探測器大面積正比計數器1100mm?感應面積

光斑尺寸0.3-1.0mm準直管(出廠時設定)

樣品觀察高分辨彩色攝像係統,放大倍數20-40倍

樣品臺手動剪式樣品升降臺

定量分析基於標準樣品的經驗模型

基於基本參數法的無標準模型

電源:230V/500Hz,100W

尺寸:355×330×330mm

重量:26公斤


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