手持式礦石分析儀_鉑悅儀器（上海）有限公司

詳細信息

手持式礦石分析儀測量範圍(Mg-U)

Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,

Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。

手持式礦石分析儀測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和金屬礦

例如：鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、

銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等

主要應用

主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；

還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。

主要特性：

簡體中文界面

Windows Mobile5.0操作係統

開機後不需校準就可直接測量

採用布魯克專利技術的XFlash?SDD檢測器

分析元素小從Mg開始，達40多種。

分析範圍：ppm級至50%以上(與礦樣種類有關)

實時分析數據和圖譜顯示

XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量範圍更廣

測量完全無損，不受樣品形狀限制

儀器自動校準，自動存儲測量數據，無需人工幹預

主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗衝擊

可選擇一鍵式定時測量

內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快

儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環境

在開機狀態下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態，以節省電源和保護儀器

X射線管性強，採用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命

選配GPS定位係統，可定位礦體位置並繪制礦脈分布圖

FP模式，適於各種礦石樣品，大大縮短現場工作時間。自動補償元素間幹擾。

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