該儀器適用於光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

主要性能指標： * 波長範圍及峰值波長 (二者擇其一)   （1）365探頭（光譜響應曲線見圖）           λ：(320～400)nm； λP＝365nm   （2）420探頭（光譜響應曲線見圖）           λ：(375～475)nm； λP＝420nm* 輻照度測量範圍    (0.1～199.9×103)μW/cm2* 紫外帶外區雜光     365    小於0.02％     420    小於0.02％* 準確度   ±10％* 響應時間   1秒* 使用環境   溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH                * 尺寸和重量   180mm×80mm×36mm；0.2kg* 電源   6F22型9V積層電池一只