掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀：布魯克Hysitron PI 88
PI 88是布魯克公司生產的新一代原位納米力學測試係統，其大特點是係統設計高度模塊化，後期可在已有係統上自行配置並拓展其他功能。
真正實現直接觀察條件下的定量納米力學表徵；的XYZ方向樣品定位，配合可選傾斜和旋轉樣品臺；模塊化設計，可搭載全套測試技術，包括800℃熱臺，劃痕，擴展量程的傳感器，電學偏壓等。
輕松搭載定量納米力學測試
深入了解納米尺度下的力學性能
在您實驗室已有的熟知儀器上獲得力學數據，在您電鏡上擴展如下功能，包括:
1.納米壓痕微懸臂彎曲
2.微柱或微顆粒壓縮
3.拉伸測試
4.納米劃痕
整個實驗過程中始終如一的穩定性
布魯克的原位解決方案專為電鏡環境下的出眾性能而設計。真空相容性/檢測器定位和機架柔度等相關因素均被嚴格考慮。我們專屬的傳感器技術確保實驗過程中納米力學測量所需的靈敏度和穩定性，而數位控制器提供了超快的反饋和數據採集率。因而應力誘發變形過程之前、之中、之後都得以高速捕獲加以分析。
穩定性和度
Hysitron PI88 配套一套真空適用的布魯克納米尺度傳感器和導電金剛石壓頭。通過傳感器中的靜電力施以載荷，電容記錄位移。低電流設計帶來的超低溫漂保證了前所未有的靈敏度。與傳感器配合的是一套在XYZ三軸方向均>8mm的樣品定位載臺，可實現在較大樣品上超好的橫向精度以及線性和靈活定位。在這一簡潔平臺機械繼承的載臺和傳感器為使用者提供了納米力學測試所需的穩定、剛性的基礎。
該係統通過視頻接口將材料的力學數據（載荷-位移曲線）與相應SEM視頻之間實現時間同步，允許研究者在整個測試過程中極其地定位壓頭並對變形過程成像。解決了傳統納米壓痕方法，只能通過光學顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前後的形貌變化，因無法監測中間過程，而終對載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯誤解釋的問題。
PI 88安裝於SEM，可以施加載荷，檢測位移，在電鏡下進行壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學性能測試；此外，通過升級電學、加熱模塊，還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結構與性能的關係。
800°C Heating
Electrical Characterization
Push-to-Pull Device
nanoDynamic Mode
nanoScratch Mode