Dimension FastScan
上掃描速度快的原子力顯微鏡
掃描速度的全新詮釋，擁有高的掃描分辨率，優異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 的分辨率和的儀器性能前提下，大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了這套快速掃描係統，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利Dimension快速掃描係統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的願望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
率
在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節 和檢測器調節，智能進針，大大縮短了實驗時間。
自動測量軟件和高速掃描係統結合，大幅提高了實驗數據 的可信度和可重復性。
高分辨率
Fastscan的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
低噪音，溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。
在任何樣品上均有表現
閉環控制的Icon和FastScan的掃描管地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低於30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到分辨的真實圖像。
Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品無失真掃描。
Dimension Fastscan是上第一臺將掃描速度、分辨率、度和噪音控制結合的AFM，真正實現了快速掃描原子力顯微鏡的商業化應用。為了實現AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力於AFM技術的改造和完善。
■採用低熱漂移的針尖掃描AFM技術，提高了係統的固有振動頻率。
■應用新的NanoScope控制器，為機器提供了更高的帶寬。
■開發了小懸臂的生產工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。
■採用了低噪音的機械和電子的主要部件，結合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術上獲得了重大突破。
■更高的帶寬提供了的力控制和高掃描速度，結合的閉環控制，在效率上遠遠高於其它任何商業化的AFM。
■以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了上第一臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調節使得實驗的組建更為快速有效。
■ 係統使用自帶的樣品導航軟件MIRO，利用光學成像係統能夠在幾分鐘之內分辨並抓取納米級的樣品特徵。
新的光學係統可以使用任何Bruker的探針，在不降低係統穩定性的前提下，得到好的激光信號調節。
■ 針尖掃描係統的設計與210mm大尺寸樣品臺結合，了樣品尺寸的限制，同時維持了低的噪音和熱漂移水平。
AFM性能
Dimension FastScan AFM 的分辨率，與Bruker特有的電子掃描計算方法相結合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質量。Dimension Icon是我們工業的針尖掃描技術的新革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現出Z軸亞埃級範圍和XY軸埃級範圍的噪音水平，這個驚人的性能出現在大樣品臺，34微米和90微米的掃描範圍的係統上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計也能展現較高掃描速度，而不損壞圖像質量，實現更大的數據採集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的度。這種革新與新的專利掃描和下針算法相結合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
傑出的生產力
使用Dimension係列原子力顯微鏡發表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業生產的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更的新水平，展現出更高的性能和更快地獲得測量結果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往先進的AFM技術更加簡便。可以使初學者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質量的結果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業調整。Dimension FastScan的每個方面—從完全開放式針尖樣品空間，到預存軟件參數設置—都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低於200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，聞名的Dimension AFM平臺，三者結合提供了無與倫比的AFM儀器性能，保證您在短時間內得到測試結果並發表出版。
上靈活的平臺
Dimension FastScan 展現出的無與倫比的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現了以前只有在特制的係統中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能完全展現在科研領域和工業領域的研究者面前，為高質量AFM 成像和納米研究設定了新的標準。Dimension 係列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學、電學和電化學附件。
無與倫比的性能和多種附加模塊滿足您的科研需要
出眾的性能滿足各種應用需求
Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數據，獲得更多通道的高質量數據。結合我們Bruker的很多AFM專利技術，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其的性能優勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的專利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學成像。使用FastScan技術，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學圖譜的時間。
納米操縱
可實現在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環掃描器解決了掃描管的蠕變效應，大大提高了操縱的度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用於任何納米操作係統。
加熱和冷卻
在以各種AFM 模式掃描的同時可實現-35℃到250℃的溫度的控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低於100nm的局部加熱到500℃。
電學表徵
使用專利的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態範圍上實現電學表徵。PeakForce TUNA?和PeakForce SSRM提供了的電學表徵方法，同時還可以與樣品上的力學屬性相聯係。
利用短時間獲得高質量可發表數據結果
無論是作為科研交流還是發表科學文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業的數據測量和高質量AFM圖片。真正的快速掃描AFM係統使您能夠運用簡易方法對大量數據進行快速準確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM係統獲取大量樣品信，進行樣品常規篩選。無論是材料生產中進行失效分析或納米級的質量控制，及時的產品信息反饋是的產品質量控制過程。納米表徵面臨提高表徵速度的挑戰時，高度成為條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數據對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。
動態應用範例
另一種常見的應用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態變化觀察都是研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。