射頻通道卡的創新架構實現了前所未有的多站點和站點內並行測量，可對當前和下一代射頻設備進行大批量、低成本測試。
高速增長的無線通信市場帶來了若幹嚴峻的測試挑戰。
基於射頻的通信協議種類繁多，要求測試設備具有高度的通用性和可擴展性，以便為即將到來的新一代 5G 通信提供測試途徑。
這些設備還具有低測試成本和高生產率的特點，以便更快地將新集成電路設計推向市場。
ADVANTEST的Wave Scale?一代射頻通道卡使V93000單一可擴展平臺在測試無線通信中使用的幾乎所有射頻和混合信號半導體器件時實現業界的並行性和吞吐量。
這些卡使 V93000 平臺能夠進行高度並行的多站點和站點內並行測試，實現前所未有的性能。
一體化測試解決方案
靈活的 Wave Scale 射頻卡能夠測試驅動 LTE、LTE-Advanced 和 LTE-A Pro 智能手機以及 LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍牙和物聯網無線應用的射頻 SoC。
除了滿足當前的市場需求外，它還具有可擴展性，可應對未來 5G 網絡的技術變化。
多站點和現場並行測試
Wave Scale RF 採用先進的架構，使其能夠超越傳統射頻測試解決方案的能力。
其他係統每次只對每個站點的一種射頻標準進行測試，而該射頻卡可同時對每個 DUT 內的多種標準或多條路徑進行測試。
它將這種的站內並行性與八倍站或更多站的測試能力和高多站效率相結合，大大降低了復雜射頻設備的測試成本。
大批量能力
Wave Scale 射頻卡每個板卡有四個獨立的射頻子係統，可以處理測試無線通信中使用的全部設備所需的單個刺激和測量頻率。
每個射頻子係統都有 8 個端口，可以扇出射頻信號，多可有 4 個獨立的測量儀器。
通過這種配置，四個射頻子係統中的每一個都可用於八個站點，同時進行接收器和發射器測試，所有內部射頻路徑也可並行測試。
該係統每張卡多可處理 32 個站點，用於物聯網、藍牙和其他設備。創新的 V93000 測試處理器可控制和同步所有儀器的並行和獨立操作。
該卡的 32 個射頻端口均可支持高達 6 GHz 的 200 MHz 帶寬。此外，內部環回和嵌入式校準標準為係統的高度集成架構做出了貢獻。