可對離子遷移?絕緣電阻值進行?高信賴性?率的評價。
從當今的地球?市場環境來看，省能源?鉛/無鹵素?小型輕量?低價格?高信賴等觀點出發的，
新素材?新實裝方法的研究開發?評價方法的重估是的。
J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，
新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100係列。
簡介：離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流
電壓（BIAS VOLTAGE）,經過長時間的測試（1∼1000小時）並觀察線路是否有瞬間短路的
現象發生（ION MIGRATION）,並記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）
適用規格：JPCA-ET01-2001
項目
規格?性能?其他
體
型式
ECM-100/40-n (n:Channel數)
ECM-100/100-n (n:Channel數)
體型式
40CH型（大4計測組合）
100CH型（大10計測組合）
體寸法
265W×330.3D×405H（突起部除外）
417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
消費電力
大約70VA（4計測組合實裝時）
大約130VA（10計測組合實裝時）
重量
大約16kg（4計測組合實裝時）
大約25kg（10計測組合實裝時）
使用電源
AC100V 50/60Hz
計測 組合
計測Channel數
10CH
計測電阻值範圍
2kΩ∼10TΩ
DCbias印加
電壓範圍
2範圍 （1.0∼30.0V，30.1∼300.0V）
電壓範圍設定
1組（5CH）
電壓級別設定
Channel個別
設定分解能
0.1V
設定精度
±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
大輸出電流
700μA／CH
DCbias計測
計測範圍
2範圍（0∼33V、0∼330V）
計測精度
±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
計測分解能
0.1V∼（整數+小數點以下１行表示）
AD轉換器
24bits⊿ AD轉換器／CH
計測速度
16msec／10CH
電流計測
計測方式
CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式
計測範圍
5範圍（∼500μA，∼50μA，∼2.5μA，∼125nA，∼6.25nA）
計測範圍設定
CHANNEL個別指定 或者 自動範圍
計測精度
±0.3％（F.S.）
計測分解能
1pA∼（有 數字4行表示）
AD轉換器
24bits⊿ AD轉換器／CH
計測速度
16msec／100CH
Ｃ Ｐ Ｕ 組合
制禦Channel數
5∼100CH（5Channel 位）
數據收錄
試驗制禦 位
1組（5CH）
試驗設定小時
1分∼9999小時
收錄間隔（定期）
1分∼60分
收錄間隔（ECM發生時）
16msec
記錄媒體
Compact flashcard
其他
主PC通信機能
LAN接觸口×1
環境試驗機通信機能
RS-232C接觸口×2
外部輸入1
接點輸入×4 （聯動裝置，緊急停止制禦可）
外部輸入2
電壓輸入(1-5V)×2，電流輸入(4-20mA)×2 （溫度?濕度記錄可）
自動校正
bias輸出補正，異常leak電流檢測
計測線
詳細請聯係：深圳市世紀天源儀器有限公司