現金回收hioki日置IM3570日本HIOKI日置IM3590 LCR測試儀
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● 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
● LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的測量
● 適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用於無線充電評價係統TS2400
● 搭配4ch掃描模塊機架，更能實現2MHz阻抗的4ch測量
M3570阻抗分析儀,日置IM3570阻抗分析儀適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。
IM3570阻抗分析儀,日置IM3570阻抗分析儀的特點：
1.基本精度±0.08%的測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。
2.LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量。
3.HIOKI IM3570適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。
4.1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查。
IM3570阻抗分析儀,日置IM3570阻抗分析儀的技術參數表：
測量模式 LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量
HIOKI IM3570的測量參數 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定）
顯示範圍 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平 V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
HIOKI IM3570輸出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗模式：10Ω
顯示 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）
測量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
HIOKI IM3570其他功能 DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源 AC90~264V，50/60Hz，大150VA
打印 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
電源 AC90~264V，50/60Hz，大150VA
體積和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件 電源線×1