| 品牌 | FEI |
| 規格 | 正常規格 |
| 產地 | 德國 |
全新的 Magellan? 400 SEM 是可在1- 30 kV 電子能量範圍內提供亞納米級分辨率的掃描電鏡，有效建立被稱為 XHR 掃描電鏡的全新性能類別。的低加速電壓性能可提供其他技術根本無法實現的分辨率表面特定信息。
在半導體和數據存儲市場，Magellan 前所未有的性能可大幅擴展 SEM 的功能，提供基礎研究、流程和材料開發、流程控制以及故障分析所需的解決方案。它可實現快速高襯度成像，並具備大樣品或多樣品的亞納米級分辨率成像和分析能力，包括橫截面。Magellan 400 具備業界的性能，但不削弱傳統SEM 的高生產量、樣品靈活性和易用性特徵。
在科學和工業研究開發領域，Magellan 具備形成高分辨率納米級表面細節、顆粒和材料界面圖像的的能力，開啟全新的研究領域，享受大量取得下一項突破性發現的機會。它能使研究人員觀察到催化劑顆粒、納米管、生物體和其他納米結構的基本屬性，而這些是他們以往利用任何其他顯微鏡或成像技術從未觀察到並且無法觀察到的。
Magellan 400 的性能源自其融合了 FEI 新穎 UC 專利技術的的電子鏡筒設計，以及高度穩定的平臺設計和先進的 五 軸100mm 壓電陶瓷樣品臺。整合式等離子清潔器和液氮冷阱可確保樣品清潔。Magellan 400 具備的低能量性能，同時也具有更高能量條件下的高分辨率 STEM 成像性能，以及包括 EDS和 EBSD 分析在內的分析能力。