詳細信息
德國耶拿光學集團JENOPTIK T8000係列粗糙度儀，計算機集成化的的表面輪廓粗糙度和波紋度測量儀，參數共計90多種，粗糙度和宏觀輪廓行程可達0-60mm或0-120mm，多種型號可選。
主要特點：
◆ 計算機集成化的的表面輪廓粗糙度和波紋度測量儀，參數共計90多種
◆ 粗糙度輪廓測量儀符合新GB中國標準 ISO國際標準/ DIN德國標準/ MOTIF法國標準/JIS日本標準
◆ 穩定和牢固的機動立柱保證了測頭的自動定位
◆ 在整個進給長度內都可測量粗糙度
◆ 在一個測量報告內分析粗糙度和輪廓特徵數據
◆ 粗糙度和宏觀輪廓行程可達0-60mm或0-120mm
◆ 機動立柱穩定牢固，保證測頭的自動定位
◆ 海量採樣點多達1,200,000點(120mm) 或 600,000點(60mm)
◆ 軟件結構清晰，界面圖形化，操作簡單