| 品牌 | OXFORD Instruments |
| 規格 | 臺式 |
| 材質 | 鋁合金 |
| 產地 | 英國 |
膜厚測試儀 CMI900 常用於 鋁業表面處理加工及PCB線路板膜厚測試儀，LED支架膜厚測試儀，連接器膜厚測試儀等金Au 銀Ag鈀Pd銠Rh鎳Ni錫Sn銅Cu鋅Zn等電鍍層表面處理單層或多層膜厚的一次快速 無損準確的測量。
X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用於材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基於WindowsXP
中文視窗係統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的自動化控制，
PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都於全的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料並定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。
B ：度於，到0。025um (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動範圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900係列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，小可達0.025 x 0.051毫米
牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀
*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。滾鍍 挂鍍 連續鍍 沉金沉銀 噴錫霧錫 等工藝~金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 鉻 鋅 等貴金屬多鍍層膜厚測量
*可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，多鍍層一次測量出結果，避免直接接觸或破壞被測物。
*薄膜FP法軟件是標準配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外，適用於無鉛焊錫的應用。
*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點
採用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
另牛津儀器換購回收業務與二手儀器出售業務 -- 這種循環經濟模式是一種新興環保產業！儀器的再生加工，盡量減少儀器回收過程二次污染，為二手儀器再生利用這一產業鋪路搭橋，創建一個更加合理的、科學的、遵循市場經濟規律的新模式,他是創建節約型社會的一個主要的經濟活動，是一個利國利民的產業。
對於您長期閒置的分析測試儀器,牛津將進行優惠換購或回收,無論您在省內或省外任何地方,只需您一個電話或郵件,通過了解和相互的溝通,我們將對您的儀器評估收購。